手持式四探针测试仪及四探针测量原理介绍

发布时间: 2020-04-24 14:16:21 点击: 345

手持式四探针测试仪及四探针测量原理介绍

手持式四探针测试仪设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。


  手持式四探针测试仪组成部分:

由主机、四探针探头、充电器、探针、工具箱组成,选配测试台。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入;

具有零位、满度自校功能;

手动/自动转换量程可选;测试结果由液晶显示。

本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!


  手持式四探针测试仪探头选配:

根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。

1.碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也

2.球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。

换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
      
手持式四探针测试仪特点

仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性、智能化、结构紧凑、使用简便等特点。


仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。