复合集流体极片电阻的测试方法
2024-05-27
复合集流体极片电阻，原理说明Principle explanation 采用”同步分层级法“对复合集流体各层级电阻，电阻率，整体导电层电阻，压实密度进行测量.
了解更多
QJ 487-1983铝及铝合金化学导电氧化膜层接触电阻
2024-05-20
QJ 487-1983铝及铝合金化学导电氧化膜层技术条件；导电性能要求膜层接触电阻要求，经化学导电氧化处理的试片，在1kg/平方毫米的电极压力下，其接触不大于900毫欧/平方毫米.
了解更多
电解槽双极板接触电阻
2024-05-10
双极板接触电阻的大小取决于多个因素，包括接触面积、接触压力、接触材料和表面状态等。例如，增加接触面积和接触压力可以降低接触电阻，而使用导电性能更*好的材料或保持表面清洁也可以降低接触电阻。
了解更多
碳纤维单丝、纱束及其复合材料电阻率测试方法
2024-01-23
体积电阻率由试样的电阻、试样的长度和横截面积计算得到.电阻和试样长度由测试获得;方法A碳纤维单丝体积电阻率的测定方法，其横截面积由单丝直径计算获得；方法B碳纤维纱束体积电阻率，横截面积由试样的密度和线密度计算获得.
了解更多
转鼓法表征粉体流动性的特点及应用
2024-01-15
转鼓法表征粉体流动性的特点及应用 转鼓法表征粉体流动性的特点是操作简单、快速、准确度高，可以用于各种粉体材料的流动性测试，包括金属、非金属、矿物、化学原料等。
了解更多
材料电阻/电阻率测试方法及特点
2024-01-15
材料电阻/电阻率测试方法及特点 材料电阻率是描述材料导电性能的物理量，其大小取决于材料的种类、成分、温度、压力等因素。电阻率越大，导电性能越差；电阻率越小，导电性能越好。
了解更多
四探针法测量半导体电阻率及薄层电阻
2023-12-07
四探针法测量半导体电阻率及薄层电阻 四探针法是一种广泛用于测量半导体电阻率及薄层电阻的电学测量方法。其通过在样品上放置四个探针，并施加电流，测量电压降来计算电阻率和薄层电阻。该方法的优点在于其非破坏性、快速、准确且适用于不同形状和大小的样品。
了解更多
半导体电阻率的测试方法及影响因素
2023-12-07
半导体电阻率的测试方法及影响因素 半导体电阻率是衡量半导体材料电学性能的重要参数，对于半导体的制备和器件的性能有着重要的影响。因此，对半导体电阻率的测试方法及影响因素进行研究，对于半导体产业的发展具有重要意义。
了解更多
直流四探针法测电阻率样品厚度和面积的影响
2023-12-07
直流四探针法测电阻率样品厚度和面积的影响 直流四探针法是一种常用的测量电阻率的方法，它通过测量四个探针之间的电流和电压来计算电阻率。然而，样品的厚度和面积对测量结果有很大影响。
了解更多
电阻 方块电阻 电阻率的区别
2023-12-07
电阻 方块电阻 电阻率的区别 电阻是一个物理概念，表示导体对电流的阻*碍作用。方块电阻和电阻率是电阻的两种不同度量方式，它们之间存在一定的区别。
了解更多
