方块电阻测试仪-四探针法功能说明

发布时间: 2021-04-28 14:35:24 点击: 487
方块电阻的计算方法
方块电阻又称膜电阻,是用于间接表征薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等样品上的真空镀膜的热红外性能的测量值,该数值大小可直接换算为热红外辐射率。
 
方块电阻的计算方法:
 
方块电阻:Rs=ρ/t(其中ρ为块材的电阻率,t为块材厚度)
或者写成电导率的表达式:Rs = 1/(σt)
这样 在计算块材电阻的时候,我们就可以利用方块电阻乘以长宽比例得到,计算过程与维度无关:
R=Rs*L/W(L为块材长度,W为块材宽度)
 
方块电阻测试仪是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、 ITO 导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。大显示屏,直观度数,稳定性好,可以外接其他控制单元,与其他系统集成使用;适用于覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜等。

方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护,在宽广的量程范围内,使各种电子薄膜能得到准确、无损的方块电阻测量结果。

由于新型薄膜材料种类繁多,研制过程中样品性能变化较大,而且各种薄膜的机械强度,允许承受的电压、电均不相同,因此测试仪可为用户量身定制各种定探针压力及曲率半径的探针头,,测试电压和测试电均可连续调节,给薄膜、涂层的研制者提供了个摸索测试条件的宽阔空间。

由于仪器设有恒源开关,并且所有电档在探针与样品接触后均有电接通的功能,充分保护了样品表面不会因为探针接触时产生的电火花而受到损坏