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方块电阻测试方法

发布时间： 2023-08-20 21:57:52 点击： 1289
方块电阻又称膜电阻，是用于间接表征薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等样品上的真空镀膜的热红外性能的测量值，该数值大小可直接换算为热红外辐射率。方块电阻的大小与样品尺寸无关，其单位为Siements/sq，后增加欧姆/sq表征方式，该单位直接翻译为方块电阻或者面电阻，用于膜层测量又称为膜层电阻。
方块电阻通常采用四探针法进行测量。四探针法是一种常用的测量薄膜材料电阻的测试方法，通过四个探针同时接触样品表面来测量电阻率。这种方法可以有效避免因探针与样品接触不良所导致的测量误差，能够准确地测量出低阻值材料的电阻率。

在方块电阻的测试中，四探针法通常采用等间距的探针排列方式，即探针之间的距离相等。测试时，将样品放置在测试平台上，然后通过控制器驱动四个探针以相同的速度同时向样品表面靠近，直到接触到样品表面。此时，测试仪器会自动记录四个探针之间的电阻值，并通过计算得出样品的方块电阻值。

需要注意的是，在采用四探针法进行方块电阻测试时，需要选择合适的探针间距和压力，以确保测试结果的准确性和重复性。此外，还需要对测试仪器进行定期的校准和维护，以保证测试结果的可靠性。