方块电阻测试原理
发布时间: 2023-08-21 16:09:08 点击: 1250
方块电阻又称膜电阻,是用于间接表征薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等样品上的真空镀膜的热红外性能的测量值。这个数值可以用来计算热红外辐射率。方块电阻的大小与样品尺寸无关,其单位为Siements/sq,也可以用欧姆/sq表示。
方块电阻测试是用来测量半导体材料制成的薄膜或大圆片的电阻值的测试方法。其测量原理是基于四探针法,通过四个探针的接触来提供测试电流和提取电位差。在膜宽大于探针间距时,可以计算出方阻与等效四端电阻的比值为4.532。根据这个比值,仪器内部会自动计算出方阻大小。方块电阻的单位是欧姆,其符号为Ω。
方块电阻测试是用来测量半导体材料制成的薄膜或大圆片的电阻值的测试方法。其测量原理是基于四探针法,通过四个探针的接触来提供测试电流和提取电位差。在膜宽大于探针间距时,可以计算出方阻与等效四端电阻的比值为4.532。根据这个比值,仪器内部会自动计算出方阻大小。方块电阻的单位是欧姆,其符号为Ω。
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