FT-354 高温粉末电阻率测试仪 500℃粉体四探针四端导电检测设备
发布时间： 2026-06-26 15:37:34 点击： 22
产品介绍
ROOKO 瑞柯微 FT-354 系列高温型粉末电阻率测试仪包含 FT-354B、FT-354D 两款机型，适配高温工况下粉体电学性能完整表征，整机搭载集成电路模块，搭配 USB、232 双通讯端口与直流恒流源，区分四探针表面方阻、四端体积电阻两种测量模式，全部测试流程依托配套 PC 软件完成。设备自动切换正负电流、正负电压信号，同步记录升温、降温、加压、泄压全过程电阻、电阻率、电导率数据，自动生成曲线图谱与可导出检测报表，支持常温与高温条件下数据比对分析。温控区间覆盖常温至 500℃，温控规格可调整定制，全自动加压、脱模结构简化试样更换流程，外置吸尘组件减少粉体交叉干扰，适配新材料企业研发质检、高校实验室、第三方检测机构高温粉体标准化测试需求。
产品特点
搭载集成电路控制模块，配备 USB、232 双通讯接口，数据传输稳定适配电脑联动操作
内置直流恒流源，区分四探针、四端两类测量模式，分别匹配半导体、导电粉体检测需求
设备自动输出正负电流、采集正负电压，抵消粉体接触面电势差，数据稳定度稳步加强
温控区间常温至 500℃，温控规格支持定制，模拟材料实际高温使用工况
全自动加压、自动脱模一体化结构，减少人工操作带来的数据偏差与试样损耗
紫铜电极搭配多规格模具，模具内径随压力规格匹配，模腔行程适配多种粉体装填厚度
配套 PC 软件可同步读取温度、压强、厚度、电阻、方阻、电阻率、电导率多类参数，单位自动切换
软件实时绘制温压 - 电学变化曲线，存储、打印、导出完整检测报表，支持多组图谱比对分析
样品高度测量分辨率可达 0.001mm，恒压时长自由设定，适配不同粉体压缩静置需求
出厂标配标准校准电阻、高度校准件，日常校验操作简便，整机误差区间可控
外置吸尘处理装置，测试后粉体清理便捷，降低不同试样交叉污染影响
多档压力规格可供搭配，配套电脑、水分仪、真密度仪等拓展配件与全套技术服务
工作原理
将粉体试样装填至匹配压力规格的绝缘模具内部，闭合加热腔体后在 PC 软件设定目标温度、加压参数与恒压时长，设备自动升温至设定温区并保温稳定。直流恒流源输出恒定电流，FT-354B 采用四探针法采集粉体表面方阻，FT-354D 采用四端法采集粉体体积电阻，厚度传感器同步捕捉粉体压实高度，系统结合模具截面积同步换算电阻率、电导率数值。加压、稳压、泄压全程持续采集温压与电学对应数据，软件自动生成完整变化曲线，测试完成设备自动脱模，搭配标准校准件定期校验设备测量基准，全部数据可留存归档用于材料配比、生产工艺调整参考。
技术参数
| 技术规格 / 型号 | FT-354B | FT-354D |
|---|---|---|
| 方阻 / 电阻范围 | 10^-6～2×10^5Ω/□ | 10^-8～2×10^4Ω |
| 电阻率范围 | 10^-6～2×10^5 Ω-cm | 10^-8～2×10^4 Ω-cm |
| 电导率范围 | 5×10^-6～10^6 S/cm | 5×10^-5～10^8 S/cm |
| 测试电流范围 | 10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA、1000mA | 0-10A，100uA |
| 软件功能 | 同步显示电阻、电阻率、方阻、温度、电流电压、厚度、压强，自动切换单位，生成变化图谱，报表导出打印，自定义测试时长与压力程序 | 同步显示电阻、电阻率、方阻、温度、电流电压、厚度、压强，自动切换单位，生成变化图谱，报表导出打印，自定义测试时长与压力程序 |
| 测试方法 | 四探针法（表面方块电阻） | 四端法（体积电阻） |
| 模具配置 | 200kg/300kg 机型模具内径 10mm；500kg/1000kg 机型模具内径 20mm，模具行程 25mm | 200kg/300kg 机型模具内径 10mm；500kg/1000kg 机型模具内径 20mm，模具行程 25mm |
| 可选压力规格 | 200kg，300kg，500kg，1000kg | 200kg，300kg，500kg，1000kg |
| 模腔行程 | 0-20mm，样品压实厚度建议 4mm 以内 | 0-20mm，样品压实厚度建议 4mm 以内 |
| 样品高度量程 | 0.001-10.000mm，测量分辨率 0.001mm，压缩厚度 0.1mm | 0.001-10.000mm，测量分辨率 0.001mm，压缩厚度 0.1mm |
| 恒压设置区间 | 0-99.9s | 0-99.9s |
| 温控区间 | 常温 - 500 度，支持定制温区 | 常温 - 500 度，支持定制温区 |
| 出厂标准配件 | 标准校准电阻、标准高度校准件各一套 | 标准校准电阻、标准高度校准件各一套 |
| 操作方式 | PC 软件全自动控制 | PC 软件全自动控制 |
| 加压结构 | 自动加压 | 自动加压 |
| 脱模结构 | 自动脱模 | 自动脱模 |
| 电极材质 | 紫铜 | 紫铜 |
| 除尘配置 | 外置吸尘处理系统 | 外置吸尘处理系统 |
| 整机误差表现 | 整体误差 3%，重复性误差 2% 以内（排除材料自身、人为干扰因素） | 整体误差 3%，重复性误差 2% 以内（排除材料自身、人为干扰因素） |
| 工作供电 | AC 220V±10%，50Hz | AC 220V±10%，50Hz |
| 拓展选配 | 电脑打印机、计量证书、水分仪、真密度仪 | 电脑打印机、计量证书、水分仪、真密度仪 |
适用范围
适配锂离子负极、各半导体粉体、石墨、碳素导电粉料高温电学性能检测，可模拟材料高温使用环境，分析温度、压强变化下粉体电阻、电阻率、电导率波动规律。覆盖新材料生产研发部门、企业质检实验室、高等院校材料、科研院所、质量检验机构，为原料配比调整、生产工艺优化、产品数据库搭建完整测试数据支撑。
操作流程（简洁版）
根据粉体类型选定 FT-354B 或 FT-354D 机型，匹配对应压力规格模具，连接设备与 PC 通讯端口
将粉体均匀装填模具内部，关闭高温腔体，在软件设置目标温度、加压程序、恒压时长
启动全自动测试程序，设备自动升温、加压稳压、分段采集温压与电学全套参数
测试完成设备自动脱模，软件生成温度压强 - 电阻变化曲线，导出检测报表存档
使用外置吸尘设备清理模具残留粉体，更换试样开展多组平行检测
定期使用标配校准电阻、高度校准件校验设备，维持测量均衡稳定
服务项目（简洁版）
售后服务：设备故障到场检修、整机温控与软件操作技术指导、原厂配件更换支持
延保服务：1-3 年原厂延保选购，延长设备保修周期，降低长期运维损耗
样品测试：待检粉体可送至实验室完成高温电学标准化检测，输出完整曲线与数据记录
增值配套：合作机构计量出具计量证书、仪器技术升级、易损备件批量备货
耗材配件采购：测试线、标准电阻、高度校准件、测量模具等损耗件批量储备，适配高频检测工况
包装配件
标准配置
高温测试主机、自动加压脱模组件、对应规格测量模具、紫铜电极套件、四端 / 四探针测试线、标准校准电阻、高度校准件、外置手持吸尘器、配套 PC 分析软件、操作说明书、电源线、清洁毛刷
可选增购配件
多组标准校准电阻、电脑与打印设备、水分测试仪、真密度测试仪；配套技术服务包含计量证书、1-3 年延保服务
售后服务（简洁）
设备出厂配备基础质保周期，质保周期内非人为损坏零部件可更换
设备出现温控异常、数值偏差、硬件故障、软件报错可提交报修，安排技术人员到场检修
全周期线上技术指导，解答温控设置、压力程序、模具匹配、报表导出相关疑问
支持仪器技术升级，适配新增测试标准与高温工况需求，长期稳定供应原厂耗材、易损配件
FAQ
Q：两款机型测试方式有什么区别，如何选型？
A：FT-354B 采用四探针法，用于半导体粉体表面方阻检测；FT-354D 采用四端法，适用于石墨、碳素等导电粉体体积电阻率测量，可根据材料品类选型。
Q：设备测试温度可以调整吗？
A：标准温控区间常温至 500℃，可根据客户测试工况定制更高温区间机型。
Q：整套测试是否需要人工加压脱模？
A：整机搭载全自动加压、自动脱模结构，全部压力流程由程序自动运行，减少人工干预。
Q：测试数据曲线能否导出留存用于研发归档？
A：配套 PC 软件自动生成图谱，支持截图、报表导出存储，满足实验室数据追溯、工艺分析需求。
Q：高频检测工况需要额外采购备件吗？
A：测量模具、测试导线、标准电阻属于损耗配件，高频使用场景可批量储备多组备件，减少停机等待时长。
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