GB/T 6616-2009半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
2023-08-23
GB/T 6616-2009半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 规定了使用非接触涡流法测试半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻的方法。该标准适用于半导体器件和材料中硅片和硅薄膜的电阻率测试。 根据标准，测试系统应包括测试装置、探头、信号发生器、测量仪器和试样台等部分。测试时，将硅片或硅薄膜放在试样台上，将探头放置在试样上方，并调整探头与试样的距离。然后，通过信号发生器向探头发送激励信号，探头产生涡流磁场，该磁场在试样上产生感应电流。同时，测量仪器测量试样的电阻值。
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GB/T 6617-2009硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
2023-08-23
GB/T 6617-2009硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 规定了用扩展电阻探针法测定硅片的电阻率的方法。该标准适用于半导体器件和材料中硅片的电阻率测试。 根据标准，测试设备应包括探针、放大器、信号发生器、示波器、电源和测试夹具等。测试时，将硅片放在测试夹具上，将探针与硅片接触并将探针固定在测试夹具上。然后，通过信号发生器和放大器在硅片上施加一个小的交流电压，同时观察示波器上的读数。通过这些读数，可以计算出硅片的电阻率
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GB/T 26074-2010锗单晶电阻率直流四探针测量方法
2023-08-23
GB/T 26074-2010锗单晶电阻率直流四探针测量方法 本标准规定了用直流四探针法测量锗单晶电阻率的方法。 本标准适用于测量锗单晶的体电阻率以及直径大于探针间距的10倍、厚度小于探针间距4倍的锗单晶圆片的电阻率。
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GB/T 32993-2016碳纤维体积电阻率的测定
2023-08-23
GB/T 32993-2016碳纤维体积电阻率的测定 规定了碳纤维体积电阻率的测定方法。该标准适用于碳纤维丝束、碳纤维纱线等。 根据该标准，碳纤维体积电阻率的测定可以采用方法A（单丝法）和方法B（纱束法）。其中，方法A是指将碳纤维单丝置于电极之间，通过测量单丝的电阻值来计算体积电阻率；方法B是指将碳纤维纱线置于电极之间，通过测量纱线的电阻值来计算体积电阻率。
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GB/T 34520.6-2017连续碳化硅纤维测试方法 第6部分：电阻率
2023-08-23
GB/T 34520.6-2017连续碳化硅纤维测试方法 第6部分：电阻率 GB/T 34520.6-2017是连续碳化硅纤维测试方法的标准，其中的第6部分是关于电阻率的测定。 按照该标准，可以采用以下步骤来测定连续碳化硅纤维的电阻率： 准备试样：从连续碳化硅纤维中获取具有一定长度的试样。 处理试样：对试样进行必要的处理，如清洗、干燥等，以消除表面影响。 测量电阻率：使用高精度测量仪器，测量试样的电阻率。
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GB/T 24525-2009炭素材料电阻率测定方法
2023-08-23
GB/T 24525-2009炭素材料电阻率测定方法 GB/T 24525-2009是炭素材料电阻率测定方法的标准。该标准适用于测定炭素材料（如炭素制品、石墨电极、炭纤维复合材料等）的电阻率。 按照该标准，可以采用以下步骤来测定炭素材料的电阻率： 准备试样：从炭素材料中获取具有一定尺寸和形状的试样。
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GB/T 24521-2018炭素原料和焦炭电阻率测定方法
2023-08-23
GB/T 24521-2018炭素原料和焦炭电阻率测定方法 GB/T 24521-2018规定了炭素原料和焦炭电阻率的测定方法。该标准适用于测定炭素原料和焦炭的电阻率。 按照该标准，可以采用以下步骤来测定炭素原料和焦炭的电阻率： 准备试样：从炭素原料或焦炭中获取具有一定尺寸和形状的试样。 测量电压和电流：使用高精度测量仪器，测量试样两端的电压和通过试样的电流。 计算电阻率：根据测得的电压和电流值，按照电阻率的计算公式，计算出试样的电阻率。 需要注意的是，炭素原料和焦炭的电阻率受到多种因素的影响，如试样的尺寸、形状、纯度、微观结构等。因此，在测试过程中，应尽量减少误差，保证测试结果的准确性。同时，测试人员应采取适当的安*全防护措施，以防*止测试过程中出现问题。
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GB/T 5167-2018烧结金属材料和硬质合金 电阻率的测定
2023-08-23
GB/T 5167-2018烧结金属材料和硬质合金 电阻率的测定 GB/T 5167-2018烧结金属材料和硬质合金电阻率的测定是烧结金属材料和硬质合金的电阻率测试方法的标准。该标准规定了烧结金属材料和硬质合金的电阻率测定方法和相关要求。 根据该标准，烧结金属材料和硬质合金的电阻率测定采用四电极法。试样被制成圆柱形，直径较大的一端接触四个电极，并置于绝缘平板上。通过测量电极之间的电压和电流，计算出试样的电阻率。
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GB/T 16427-2018粉尘层电阻率测定方法
2023-08-23
GB/T 16427-2018粉尘层电阻率测定方法 GB/T 16427-2018粉尘层电阻率测定方法的具体内容如以下所述： 范围：本标准规定了测定粉尘层电阻率的方法。本标准适用于测定粉尘层电阻率的实验室试验。 规范性引用文件：GB/T 16427-2018引用了以下文件：GB/T 16427-1996。 粉尘的定义：本标准修改了粉尘的定义。粉尘是物质在气动或机械运动过程中，悬浮于空气中的微小颗粒物。 测定电路：本标准修改了测定电路的内容。测定电路由沉积在绝缘平板上的一层粉尘构成，粉尘由气体或液体雾化形成。
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GB/T 351-2019金属材料 电阻率测量方法
2023-08-23
GB/T 351-2019金属材料 电阻率测量方法 适用于测量金属材料的电阻率。该标准提供了两种测量方法：标准条件下测量和在温度变化条件下测量的方法。具体的方法包括以下步骤：
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