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FT-3671系列全量程四探针测试仪

发布时间: 2024-04-29 15:31:04 点击: 1786
 FT-3671系列全量程四探针测试仪

FT-3671系列全量程四探针测试仪

一.概述:

四探针法,可测微欧到兆欧方阻值量程,采用AD芯片控制,恒流输出, PC软件运行,自动数据测量和系数修正,直读方阻,电阻,电阻率和电导率数据;中文或英文语言版本;具有屏蔽功能;参考美国 A.S.T.M 标准。单晶硅物理测试方法

二.适用范围:

1.导电性新材料、铝箔、铜箔、铝涂层、碳纤维材料、电极材料;

2.一般的涂层材料、薄膜、薄片基底材料研究.

3.大学、研究所、R&D部门对新材料宽量程电阻率或电导性能研究使用.

三.参数资料:

规格型号

FT-3671A经济型

FT-3671B自动型

1.方块电阻范围 

10^6~2×10^7Ω/□

2.电阻率范围 

10^7~2×10^8Ω-cm

3.测试电流范围 

1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA,

100nA  ,10nA  , 1nA

4.电流精度

1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA±0.1% ; 100nA  ,10nA  , 1nA±2%

5.电阻精度

10^2Ω以下量程≤0.5%;  10^2Ω以上量程≤10%;

6.PC软件界面操作

PC软件界面显示:电阻、电阻率、方阻、电导率、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、过程图谱,报表生成.

7.测试方式

手动测量

自动测量

8.工作电源

输入: AC 220V±10%.50Hz功 耗:<100W 

9.误差

小量程≤4%(标准样片结果);大量程≤10%

10.校准方式

标准电阻和标准样片

11.测试探头

探针间距选购: 2mm;3mm两种规格; 探针材质选购:碳化钨针、镀金磷铜半球形针











配套方案:解决各材料状态 --固态、液态、气态、颗粒状 电阻、电阻率、电导率测量


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----解决材料:

导体、半导体、绝缘材料常温及高温等环境下电性能分析.


----我们一直在做:

研发、生产、销售研发、生产、销售、租赁、实验室样品分析及后延扩展服务.